NANOTEST 600

MAGELLAN Q8

CPS DISK CENTRIFUGE
DC24000

СЗМ NANOEDUCATOR

ТУННЕЛЬНЫЙ
МИКРОСКОП
PHYWE

Оборудование

Приветствуем Вас на официальном сайте Ресурсного центра коллективного пользования (РЦКП) НОЦ "Материалы" Донского государственного технического университета (ДГТУ).


NANOTEST 600

Уникальная установка Nanotest Platform 3 фирмы Micromaterials. Имеет два функциональных блока: нанотест и микротест. Основное назначение: позволяет определять твердость структурных единиц материала на наноуровне (для этого используется индентирование по "маятниковому" методу).

Определяемые механические свойства материала:
-Твердость исследуемого материала;
-Твердость нанесеных покрытий (а также их толщину);
-Модуль упругости;
-Высокотемпературные характеристики материала(до 500С).

Выбранная процедура эксперимента позволяет изучать свойства материала с течением времени, т.е. определять и статические и динамические характеристики.

Установка оснащена следующими опциями:
-Индентирование;
- Топография поверхности;
- Царапание покрытий;
- Процедура ударных циклических нагрузок.
Анализ индентирования производят по методу Оливера и Фара (Oliver and Pharr).


Основные технические характеристики:

Максимальная и минимальная нагрузки для "наномаятника" составляют 0.1 и 500 мН соответственно, для "микромаятника" 0.1 Н и 20 Н.

Применяемые инденторы:

1. Индентор Берковича (Berkovich) - пирамидальный индентор с радиусом при вершине 100-500 нм.

2. Индентор Виккерса (Vickers) - индентор в виде конуса, в наличии имеются инденторы с радиусом вершины 10 и 25 мкм.

3. Индентор Сферический (Spherical) - сферический индентор с радиусом 0.5 мм.

4. Индентор "Вершина куба" (Corner cube) - индентор представляет собой вершину куба с углами в 90 градусов.

Установка Nanotest позволяет проводить исследования по физике твердого тела, трибологии, материаловедению и другим прикладным наукам.



MAGELLAN Q8



ЦЕНТРИФУГА CPS Disk Centrifuge DC24000

Центрифуга CPS это быстрый и чувствительный анализатор размера частиц коллоидных растворов. Прибор может работать с частицами, размеры которых от 10 нм до 40 мкм.

Технические данные:

-Макc. скорость вращения .............. ......24.000 Об/мин;

-Миним. скорость вращения .............. ......600 Об/мин;

-Максимальный измеряемый р-р частиц ....40 мкм;

-Минимальный измеряемый р-р частиц .......10 нм;

-Среднее разрешение ..............менее5%;

-Средняя погрешность измерения ...+/-0.5%;

-Повторяемость результатов .........+/-0.5%;

-Метод калибровки - внутренний или внешний;

-Режимы отчета - распределение массы, поверхности или количества.

Дисковая центрифуга CPS разделяет частицы по размерам, используя центробежную седиментацию в жидкой среде по методу Ми. Возможно измерение частиц практически любой плотности, в том числе и меньшей, чем плотность жидкости, в которой они разведены, используя уникальный метод анализа CPS (патент США 5786898). Полностью графическое операционное программное обеспечение.

Области применения:

-Химия и трибохимия: полимерные латексы и эмульсии, наполнители (CaCO3, глины, барит и т.д.), SiO2 дисперсии, абразивы (всех типов), нефтяные эмульсии, катализаторы, металлические порошки, масла и др.

-Фармакология: вирусные частицы-вирусоподобные частицы, белковые кластеры, клетки (культура) и клеточные фрагменты, микроинкапсулированные препараты и др.

-Прочие: пигменты на водной и масляной основе, модификаторы вязкости краски, тонер-порошки, струйные чернила, сажа, микросферы, крахмал/частицы муки, керамика, геологические материалы, косметика, строительные материалы, глины и др.



СЗМ NANOEDUCATOR

Комплекс сканирующих зондовых микроскопов Nanoeducator (NT-MDT) позволяет реализовать различные методы измерений туннельной и "полуконтактной" атомно-силовой микроскопий и может, не только использоваться в учебных, но и в научных целях при исследованиях в области физики и технологии микро и наноструктур, материаловедения, катализа, физики и химии полимеров, трибологии, цитологии и т. п.

Атмосфера: съемка на воздухе
Температура съемки: 25С
Максимальное поле сканирования: 100 х 100 мкм
Минимальные достижимые шумы: менее 50 нм
Основные методы исследований:
-Атомно-силовая микроскопия.
-"Полуконтактный" метод.
-Отображение рельефа.
-Отображение фазы.
-Отображение силы.
-Силовая спектроскопия.
-Работа в жидкости.
-АСМ литография.
-Динамическая силовая литография.
-Сканирующая туннельная микроскопия.
-Отображение рельефа.
-Отображение тока (метод постоянной высоты).
-Измерения работы выхода(Z модуляция).
-Туннельная спектроскопия(dI/dV измерения).
-Работа в диэлектрических жидкостях.



ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП PHYWE

Простой в использовании сканирующий туннельный микроскоп предназначен для получения изображений проводящих поверхностей с атомным разрешением, а также для исследования различных эффектов на масштабах порядка размера атома. С его помощью можно поставить разнообразные эксперименты по материаловедению, физике и химии твердого тела, нанотехнологиям и квантовой механике. Можно исследовать микро- и наноструктуру поверхностей, получать изображение отдельных атомов или молекул на поверхности, создавать наноструктуры (в том числе методом самоорганизации), исследовать туннельный эффект, квазичастицы и взаимодействие между молекулами.


Преимущества:

-Полная комплектация для необходимых экспериментов с объектами атомных размеров.
-Компактность и портативность: прибор легко транспортируется и устанавливается на небольшой подставке.
-Единый корпус способствует точности и стабильности измерений.
-Не требует специальной антивибрационной защиты.
-Простота в использовании: прибор идеален для обучения студентов в области нанотехнологий и для их подготовки к работе на оборудовании более высокого уровня.
-Простая подготовка образца и сканирующей иглы. Быстрая замена образцов и игл.

Технические характеристики:

Сканирующая головка с интегрированным контроллером на виброзащищенной раме;
Максимальное поле сканирования, 500 х 500 нм;
Максимальная высота сканирования, 200 нм;
Разрешение по полю, не менее 8 пм;
Разрешение по высоте, не менее 4 пм;
Рабочий ток 0,1-100 нА;
Дискретность рабочего тока 25 пА;
Диапазон напряжения на игле +10 В;
Дискретность напряжения на игле 5 мВ;
Размеры 21 х 21 х 10 см;
Режимы постоянного тока и постоянной высоты;
Запись вольтамперной характеристики
Спектроскопия зазор-ток;
Число измерительных каналов до 7;
Минимальное время сканирования 60 мс/линию.


У нас установлено оборудование компании NT-MDT (Зеленоград, Россия)